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ABLIC S-19902xA-A8TxU7

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S-19902xA-A8TxU7可靠性试验结果

该资料为S-19902xA-A8TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、ESD测试、闩锁测试等在内的多项测试项目及其结果。所有测试均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19902XA-A8TXU7

S-19902xA-S8TxU7可靠性试验结果

该资料为S-19902xA-S8TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗性、闩锁效应等20项测试项目及其条件、测试时间、测试结果和标准。所有测试项目均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19902XA-S8TXU7

S-19902/19903系列噪声对策和CISPR25测量结果

本资料为ABLC公司发布的CMOS IC应用笔记，主要针对S-19902/19903系列IC的噪声抑制措施进行说明。内容包括噪声抑制元件的选择、电路板布局建议以及CISPR25合规性测量结果。资料详细介绍了输入电容、电感、输出电容的布局要求，并提供了推荐的电路板布局图。此外，还展示了电压法和ALSE法的测量结果，以验证噪声抑制效果。

ABLIC - Application note & Design Guide - Rev.1.0_00 - 2021/07/02 Part# :S-19902,S-19903,S-19902 SERIES,S-19903 SERIES

S-19518AxxA-V9TxU4可靠性试验结果

该资料为S-19518AxxA-V9TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储温度、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊点可靠性、终端强度、ESD抗性和闩锁测试等20项测试项目及其结果，均满足产品标准。此外，报告还包含了预处理步骤的详细信息。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19518AXXA-V9TXU4

S-19518AxxA-E8TxU4可靠性试验结果

该资料为S-19518AxxA-E8TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储温度、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊点可靠性、终端强度、ESD抗性和闩锁测试等20项测试项目及其条件、测试时间和结果。所有测试均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19518AXXA-E8TXU4

S-19932xA-S8TxU7可靠性试验结果

该资料为S-19932xA-S8TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储高温低温、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗扰度、闩锁效应等20项测试项目及其条件、测试时间、结果和标准。所有测试项目均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19932XA-S8TXU7

S-19514AxxA-V9TxU4可靠性试验结果

本资料为S-19514AxxA-V9TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了该产品在不同环境条件下的测试项目、测试条件、测试时间、测试结果以及是否符合产品标准。测试项目包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊点可靠性、端子强度、ESD抗扰度、闩锁效应等。所有测试项目均满足产品标准。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19514AXXA-V9TXU4

S-19504AxxA-E8TxU4可靠性试验结果

该资料为S-19504AxxA-E8TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储温度、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗性、闩锁效应等20项测试项目及其结果，均满足产品标准。此外，报告还包含了预处理步骤的详细信息。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19504AXXA-E8TXU4

S-19933xA-A8TxU7可靠性试验结果

该资料为S-19933xA-A8TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、ESD测试、闩锁测试等在内的多项测试项目及其结果。所有测试均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19933XA-A8TXU7

S-19933xA-S8TxU7可靠性试验结果

该资料为S-19933xA-S8TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储高温低温、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗扰度、闩锁效应等20项测试项目及其条件、测试时间、结果和标准。所有测试项目均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19933XA-S8TXU7

S-19515AxxA-E8TxU4可靠性试验结果

该资料为S-19515AxxA-E8TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储温度、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗性、闩锁效应等20项测试项目及其结果，均满足产品标准。此外，报告还包含了预处理步骤的详细信息。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19515AXXA-E8TXU4

S-19932xA-A8TxU7可靠性试验结果

该资料为S-19932xA-A8TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、ESD测试、闩锁测试等在内的多项测试项目及其结果。所有测试项目均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19932XA-A8TXU7

S-19515AxxA-V9TxU4可靠性试验结果

本资料为S-19515AxxA-V9TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了该产品在不同环境条件下的测试项目、测试条件、测试时间、测试结果和标准符合情况。测试项目包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗扰度、闩锁效应等。所有测试均满足产品标准。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19515AXXA-V9TXU4

S-19504AxxA-V9TxU4可靠性试验结果

本资料为S-19504AxxA-V9TxU4元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了该产品在不同环境条件下的测试项目、测试条件、测试时间、测试结果以及是否符合产品标准。测试项目包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、高温存储、低温存储、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker测试、焊接接头可靠性、端子强度、ESD抗性、闩锁效应等。所有测试项目均满足产品标准。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19504AXXA-V9TXU4

S-19213BxxA-V5TxU7可靠性试验结果

本资料为S-19213BxxA-V5TxU7元器件的可靠性测试结果报告。报告详细列出了包括高温操作、温度湿度偏置、压力锅偏置、存储温度、温度循环、焊接热抵抗、可焊性、 whisker、焊接接头可靠性、终端强度、ESD、闩锁效应等20项测试项目及其条件、测试时间、测试结果和标准。所有测试项目均满足产品标准，无异常情况。

ABLIC - Test Report - Rev.1.0 - 2020/03/27 Part# :S-19213BXXA-V5TXU7

S-19190 Series Usage Guidelines

ABLIC - Application note & Design Guide - Rev.1.0_01 - 2018.06 Part# :S-19190

S-19682B/19683B系列的并联操作应用笔记

本资料介绍了ABLC公司S-19682B/19683B系列高侧开关的并联操作。内容包括并联操作的目的，如增加输出电流和控制热量积累；并联连接方法；并联操作描述，包括电流平衡、过流限制、热关断电路和电气特性；板级布局注意事项；以及相关注意事项和资料来源。资料旨在帮助用户了解如何有效地使用这些IC进行并联操作，以提高电流驱动能力和热管理。

ABLIC - Application note & Design Guide - Rev.1.0_00 - 2021/12/23 Part# :S-19682B,S-19683B,S-19682B SERIES,S-19683B SERIES

S-19932/19933系列噪声对策和CISPR25测量结果

本资料为ABLC公司发布的CMOS IC应用笔记，主要针对S-19932/19933系列IC的噪声抑制措施进行说明。内容包括噪声抑制元件的选择、电路板布局建议以及CISPR25合规性测量结果。资料详细介绍了输入电容、电感、输出电容的布局要求，并提供了推荐的电路板布局图。此外，还展示了电压法和ALSE法的测量结果，以验证噪声抑制效果。

ABLIC - Application note & Design Guide - Rev.1.0_00 - 2021/07/02 Part# :S-19932 SERIES,S-19933 SERIES,S-19932,S-19933

S-19102/19108 Series FOR AUTOMOTIVE 105°C OPERATION VOLTAGE DETECTOR WITH SENSE PIN

ABLIC - Datasheet - Rev.1.2_02 - 2018.06 Part# :S-19102N37H-M5T1U,S-19108C35H-M5T1U,S-19108C36H-M5T1U,S-19102N36H-M5T1U,S-19102N38H-M5T1U,S-19102N35H-M5T1U,S-19108C37H-M5T1U,S-19102N39H-M5T1U,S-1910

S-19610A AUTOMOTIVE, 125°C OPERATION,CMOS OPERATIONAL AMPLIFIER

ABLIC - Datasheet - Rev.1.1_00 - 2019/03/01 Part# :S-19610AB0A-K8T2U,S-19610A

S-19103/19109 Series FOR AUTOMOTIVE 105°C OPERATION VOLTAGE DETECTOR WITH SENSE PIN

ABLIC - Datasheet - Rev.1.2_02 - 2018.06 Part# :S-19109N39H-M5T1U,S-19103C20H-M5T1U,S-19103C21H-M5T1U,S-19103C22H-M5T1U,S-19103C23H-M5T1U,S-19103C24H-M5T1U,S-19109N31H-M5T1U,S-19109N32H-M5T1U,S-1910

S-19630A AUTOMOTIVE, 125°C OPERATION,LOW INPUT OFFSET VOLTAGE CMOS OPERATIONAL AMPLIFIER

ABLIC - Datasheet - Rev.1.0_00 - 2019/03/01 Part# :S-19630A,S-19630AB0A-K8T2U

S-19190 Series AUTOMOTIVE, 105°C OPERATION,VOLTAGE MONITORING IC WITH CELL BALANCING FUNCTION

ABLIC - Datasheet - Rev.1.6_00 - 2021/07/02 Part# :S-19190BCH-M6T1U,S-19190ADH-M6T1U,S-19190AEH-M6T1U,S-19190BEH-M6T1U,S-19190BDH-M6T1U,S-19190BFH-M6T1U,S-19190,S-19190 SERIES,S-19190ARH-M6T1U,S-19190A